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一、参考书目:
王培铭、许乾慰主编“材料研究方法”(第三版),科学出版社
二、基本要求
1. 掌握各种材料表征设备的理论基础、样品处理方法、数据处理方法。
2. 掌握晶体学基础知识,理解X 光、电子束与晶体相互作用机制。
3. 掌握材料结构、形貌、成分分析的基本方法,掌握各种测试方法的应用范围及优势。
4. 能综合运用各种分析方法研究材料的结构及物理、化学性质,解决材料研究中的常见案例。
三、主要知识点
第一章 晶体学基础知识:晶体几何学基础;空间点阵;倒易点阵及其在几何学中的应用。
第二章 X 射线衍射:X射线的产生及特性;X射线与物质相互作用机制;布拉格方程及衍射方法;X射线衍射仪的基本结构及工作原理;粉末衍射定性分析;应力分析;谢乐公式;X射线衍射的应用;X射线衍射谱的标定及数据分析;物相分析的一般方法。
第三章 电子显微学:光学显微镜与透射电镜的异同;电子与物质的相互作用;扫描电镜和透射电镜基本工作原理、仪器构造、样品制备方法及应用范围; 透射电镜成像方法、明场像、暗场像;电子衍射原理、基本衍射公式、电子衍射花样及标定方法。
第四章 原子力显微镜:原子力显微镜工作原理、仪器构造及应用范围;原子力显微镜工作模式。
第五章 热分析方法:差热分析、热重分析仪的工作原理及在材料研究中的应用;热重曲线、差热曲线的数据分析。
第六章 材料成分分析方法:X射线光电子能量谱(XPS)、俄歇电子能谱、X射线能量色散谱的工作原理及应用范围;XPS 分峰方法。
第七章 光谱分析:物质与光的相互作用;紫外可见吸收光谱、拉曼光谱、红外光谱的工作原理及其在材料研究中的作用。比尔定律、拉曼散射、拉曼/红外活性等相关重要概念。
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